Questo studio riguarda il problema del danneggiamento a fatica di pale rotoriche di turbina a vapore, in acciaio X20Cr13. L’accumulo del danneggiamento porta ad innesco di cricche superficiali al leading edge della pala e successivo accrescimento. Test sperimentali per la determinazione delle principali proprietà meccaniche e a frattura vengono realizzati su provini cilindrici intagliati e non, estratti da pale in esercizio. Misurazioni con microscopio ottico e con il metodo del COD vengono utilizzate per monitorare l’accrescimento della cricca durante i test. Una simulazione di accrescimento automatico della cricca viene realizzata con metodologia ibrida FEM (Finite Element Method) - DBEM (Dual Boundary Element Method), con la quale a partire da un’analisi tensionale FEM che coinvolge l’intero settore palare si estrae per sottomodellazione la sola zona danneggiata, che viene importata in ambiente DBEM per la simulazione di accrescimento del difetto.
Crack Growth By Coupled FEM-DBEM Approach in a Steam Turbine Blade Undergoing Spectrum Loading
CITARELLA, Roberto Guglielmo;LEPORE, MARCELLO ANTONIO;
2014-01-01
Abstract
Questo studio riguarda il problema del danneggiamento a fatica di pale rotoriche di turbina a vapore, in acciaio X20Cr13. L’accumulo del danneggiamento porta ad innesco di cricche superficiali al leading edge della pala e successivo accrescimento. Test sperimentali per la determinazione delle principali proprietà meccaniche e a frattura vengono realizzati su provini cilindrici intagliati e non, estratti da pale in esercizio. Misurazioni con microscopio ottico e con il metodo del COD vengono utilizzate per monitorare l’accrescimento della cricca durante i test. Una simulazione di accrescimento automatico della cricca viene realizzata con metodologia ibrida FEM (Finite Element Method) - DBEM (Dual Boundary Element Method), con la quale a partire da un’analisi tensionale FEM che coinvolge l’intero settore palare si estrae per sottomodellazione la sola zona danneggiata, che viene importata in ambiente DBEM per la simulazione di accrescimento del difetto.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
