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Use of Artificial Intelligence in optical microscope imaging
2023-01-01 Carratu', Marco; Gallo, V.; Laino, V.; Liguori, C.
Use of genetic algorithms for advanced instrument fault detection and isolation schemes
1996-01-01 G., Betta; Liguori, Consolatina; Pietrosanto, Antonio
UTILIZZO DI TECNICHE DI RISONANZA MAGNETICA PER IL RILIEVO DI DIFETTI OCCULTI NELLE NOCCIOLE
2016-01-01 DI CARO, Domenico; Liguori, Consolatina; Pietrosanto, Antonio; Sommella, Paolo; Gibboni, Annamaria
Valutazione dell’incertezza in algoritmi di edge detection
2006-01-01 Anchini, R; Liguori, Consolatina; Paolillo, Alfredo; Pietrosanto, Antonio
Verifica metrologica di scanner 3-D
2007-01-01 Anchini, R; Liguori, Consolatina; Paolillo, Alfredo; Pietrosanto, Antonio
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Use of Artificial Intelligence in optical microscope imaging | 1-gen-2023 | Carratu', Marco; Gallo, V.; Laino, V.; Liguori, C. | |
Use of genetic algorithms for advanced instrument fault detection and isolation schemes | 1-gen-1996 | G., Betta; Liguori, Consolatina; Pietrosanto, Antonio | |
UTILIZZO DI TECNICHE DI RISONANZA MAGNETICA PER IL RILIEVO DI DIFETTI OCCULTI NELLE NOCCIOLE | 1-gen-2016 | DI CARO, Domenico; Liguori, Consolatina; Pietrosanto, Antonio; Sommella, Paolo; Gibboni, Annamaria | |
Valutazione dell’incertezza in algoritmi di edge detection | 1-gen-2006 | Anchini, R; Liguori, Consolatina; Paolillo, Alfredo; Pietrosanto, Antonio | |
Verifica metrologica di scanner 3-D | 1-gen-2007 | Anchini, R; Liguori, Consolatina; Paolillo, Alfredo; Pietrosanto, Antonio |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti convegno(ex ... 105
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Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 4
- 2010 - 2019 47
- 2000 - 2009 43
- 1995 - 1999 11
Editore
- IEEE 22
- IMEKO 11
- Institute of Electrical and Elect... 8
- GMEE 4
- IEEE Instrumentation and Measurem... 4
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- AESSE Grafica srls 2
- AESSE Grafica srls Benevento 2
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- IMEKO-International Measurement F... 2
Serie
- CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INS... 1
Keyword
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Lingua
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- no fulltext 105