A structured approach for the metrological characterization of biometric systems based on face recognition

	Anno
	
				2010
			
	ISBN
	
				9780473169428
			
	Appare nelle tipologie:
	
				4.1.2 Proceedings con ISBN

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11386/3009322

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