DE SANTIS, LUCA
DE SANTIS, LUCA
Dipartimento di Ingegneria Industriale/DIIN
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| A universal metadata model for metrological complex quantities | 1-gen-2020 | Paciello, V.; De Santis, Luca; Hutzschenreuter, D.; Smith, I. | |
| Deep Melanoma classification with K-Fold Cross-Validation for Process optimization | 1-gen-2020 | Nie, Y.; De Santis, L.; Carratù, M.; O'Nils, M.; Sommella, P.; Lundgren, J. |