Probe compensated NF–FF transformation with planar wide-mesh scanning

D'Agostino, F; Gennarelli, C; Guerriero, R.; Riccio, G; Savarese, C

doi:10.1109/ANTEM.2005.7852058

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The Near-Field - Far-Field (NF-FF) transformation technique with plane-rectangular scanning is undoubtedly the most simple and efficient one from the analytical and computational viewpoints. However, the antenna far field can be reconstructed only in a cone with an apex angle less than 180° unless repeating the measurements. Accordingly, such a scanning is particularly suitable for highly directive antennas radiating pencil beam patterns.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11386/1002418

Titolo:	Probe compensated NF–FF transformation with planar wide-mesh scanning
Autori interni:	D'AGOSTINO, Francesco GENNARELLI, Claudio GUERRIERO, ROCCO RICCIO, Giovanni
Data di pubblicazione:	2005
Handle:	http://hdl.handle.net/11386/1002418
ISBN:	9780973842500
Appare nelle tipologie:	4.1.2 Proceedings con ISBN

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