Temperature Dependency of the Forward Characteristics of 4H-SiC DMOSFETin Presence of SiO2/SiC Interface Traps / Licciardo, Gian Domenico; Di Benedetto, Luigi; Bellone, Salvatore. - (2015), pp. 36-39. ((Intervento presentato al convegno Microtherm 2015 tenutosi a Lodz, Polonia nel 23-25 Giuno 2015.
Titolo: | Temperature Dependency of the Forward Characteristics of 4H-SiC DMOSFETin Presence of SiO2/SiC Interface Traps |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2015 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11386/4646417 |
ISBN: | 9788393219735 |
Appare nelle tipologie: | 4.1.2 Proceedings con ISBN |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.