Temperature Dependency of the Forward Characteristics of 4H-SiC DMOSFETin Presence of SiO2/SiC Interface Traps
LICCIARDO, GIAN DOMENICO;DI BENEDETTO, LUIGI;BELLONE, Salvatore
2015
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.