4H-SiC Diodes to Probe Stark Effect Detection in 7Be Decay Lifetime
Carrano V.;Neitzert H. C.;Di Benedetto L.;Rubino A.;
2026
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
